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台式无损多镀层测厚元素分析仪
    发布时间: 2024-09-12 17:15    

台式无损多镀层测厚元素分析仪对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品,都能够快速、精准、无损元素含量检测,可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题,被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、电子半导体等多种领域。

台式无损多镀层测厚元素分析仪

台式无损多镀层测厚元素分析仪

对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品,都能够快速、精准、无损元素含量检测,可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题,被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、电子半导体等多种领域。

元素范围Al(13)-Fm(100)
分析层数5层(4层+基材)   每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素 
X射线管50 W(50kV,1mA)微聚焦钨钯射线管(靶材可选配)
探测器Si-Pin探测器,(可选配高灵敏度SDD探测器)
准直器Φ0.1-Φ3可选,多准可选
相机高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素
样品台移动ScopeX PC3:固定平台
ScopeX PC5/ScopeX PC7:手动样品XY平台,可移动范围:50mmx50mm
滤光片固定初级滤光片,多滤光可选
样品仓尺寸320mm×480mm×130mm(W×D×H)
外形尺寸330mm×580mm×360mm(W×D×H)
重量40KG
电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 
额定功率150W

可对各种异形凹槽样品进行检测,凹槽深度测量范围可达0~30 mm。

测试各类极微小的样品,即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。

搭载高精度手调X-Y平台,最高精度可达25μm,使微区测量更便捷。

1.一键智能操作,镀层厚度测量和分析

2 准确可靠的定量方法

3 材料种类查找

4 测量参数可调整(高压,滤片和准直孔)自动测量,多次激发视频图像一-可放大、含十字线

7 底材材料识别 多形式数据输出

9 储存校正结果和设定